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A LACK-OF-FIT TEST WITH SCREENING IN SUFFICIENT DIMENSION REDUCTION FOR ULTRAHIGH DIMENSIONAL DATA
报告题目:
报 告 人:
钟威 副教授(厦门大学)
报告时间:
2017年3月24日 15:00 — 16:00
报告地点:
老外楼三楼概率统计系
报告摘要: